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发射率测试的基本原理：波尔兹曼定律及其应用

在热辐射测量领域，发射率（Emissivity）是表征物体表面辐射能力的重要参数，直接影响红外测温、热成像等技术的准确性。发射率测试的核心理论基础是波尔兹曼定律（Stefan-Boltzmann Law），该定律揭示了黑体辐射能量与温度之间的定量关系，为材料热辐射特性的研究提供了科学依据。一、波尔兹曼定律的物理意义波尔兹曼定律由奥地利物理学家斯特藩（Joseph Stefan）和波尔兹曼（Ludwig Boltzmann）提出，其公式为：其中，P 表示物体单位面积的辐射功率，ε 为发射率（0 ≤ ε ≤ 1）， σ 是斯特藩-波尔兹曼常数（5.67×10⁻⁸ W/m²·K⁴），T为物体的绝对温度（单位：开尔文，K）。该定律表明，黑体（理想辐射体，ε=1）的辐射能量与其温度的四次方成正比。对于实际物体，由于发射率小于1，其辐射能力低于黑体。例如，抛光金属表面的发射率可能低至0.1，而粗糙或氧化表面的发射率可接近0.9。因此，通过测量物体的辐射能量和真实温度，即可推算其发射率。二、发射率测试的基本方法在实际测试中，发射率的测定通常分为三个步骤：温度测量：使用接触式测温仪（如热电偶或热电阻）精确测量物体表面的真实温度T。辐射能量测量：利用红外辐射计或热像仪检测物体在特定波段的红外辐射功率P 发射率计算：将测得的P和T代入波尔兹曼公式，反推出发射率ε。这一过程的关键在于确保温度测量的准确性，并选择合适的红外波段（如中波红外3-5 μm或长波红外8-14 μm）以减少环境干扰。三、影响发射率测试的关键因素发射率并非固定不变，而是受多种因素影响：表面状态：粗糙表面、氧化层或涂层会显著提高发射率，而光滑金属表面则反射性强，发射率较低。波长依赖性：某些材料在不同红外波段的发射率差异较大，需根据需求选择测试波段。温度变化：高温下，部分材料的发射率可能随温度升高而改变，需动态校准。环境干扰：周围热源的反射辐射可能干扰测量，需通过遮光或背景扣除法消除影响。四、发射率测试的实际应用发射率测试在工业、科研和军事领域具有广泛用途：工业检测：在电力、石化等行业，通过红外热像仪评估设备温度分布时，需校正发射率以提高测量精度。材料研究：航空航天领域的热防护材料（如陶瓷涂层）需精确测定发射率以优化热管理设计。新能源技术：太阳能集热器和光伏板的性能优化依赖于表面发射率的精准调控。波尔兹曼定律为发射率测试奠定了理论基础，通过辐射能量与温度的关联，实现了材料热物性的量化分析。然而，实际应用中需综合考虑表面特性、测试波段和环境因素，结合黑体炉校准和先进算法，才能获得可靠的发射率数据。随着红外技术的发展，高精度发射率测量将在智能制造、节能环保等领域发挥更重要的作用。

半球发射率与法向发射率的本质区别及测量实践

发射率（ε）是材料表面热辐射的关键参数，在热物理、材料科学等领域至关重要。区分半球发射率（εh）与法向发射率（εn）并掌握其测量方法是研究的基础。一、发射率的基础定义根据基尔霍夫热辐射定律，处于热力学平衡态的不透明物体，其对特定波长辐射的光谱吸收率(αλ)恒等于其同温度、同波长的光谱发射率(ελ)，即：αλ = ελ。发射率ε定义为物体实际表面在给定温度T、波长λ下的辐射出射度与同温度、同波长下理想黑体辐射出射度之比，取值范围在0到1之间： ε=1: 理想黑体辐射体 (理论极限)。 ε=0: 理想反射体，无热辐射发射能力 (理论极限)。实际材料：0 <ε< 1。导电性良好的金属，由于自由电子对电磁波的强反射作用，在红外波段ε普遍较低 (<0.1)；而表面粗糙、具有金属氧化物或特定涂层的材料ε通常较高 (>0.6)。二、关键区分：半球发射率vs法向发射率这两者描述了材料热辐射发射能力在不同空间尺度上的特性。 1.法向发射率（1）定义：指物体在与表面法线方向（θ=0°）的小立体角内，其辐射强度与同温度下黑体在相同方向辐射强度的比值。它仅表征材料在特定观测角度下的单方向辐射特性。（2）测量方法 ·反射率法：通过积分球反射计或激光偏振法测量反射率，结合基尔霍夫定律间接计算发射率。 ·标准黑体比较法：如CAS115标准中，将样品与同温度黑体的辐射亮度对比，计算8\~15μm波段的法向发射率。（3）特点与局限 ·相对易于测量。许多基于辐射测温原理的仪器可直接获取此值。 ·仅代表局部方向信息。对于非朗伯体（即非理想漫射表），εn无法代表材料整体的辐射散热能力。忽略方向分布特性使用εn进行全空间能量计算，将引入显著误差。 2.半球发射率（1）定义：指在物体表面整个上半球空间 (以法线为中心，2π立体角) 内，所有方向上的光谱辐射出射度对立体角的积分平均值。它代表材料表面从整个半球空间实际发射出的总辐射能量，是单位时间、单位面积辐射的总能量与同温度黑体总辐射能量的比值。（2）测量方法 ·积分球法：利用积分球收集所有方向的辐射能量，结合光谱仪测量后积分计算。 ·热流计法：通过热平衡方程推导材料表面热流与温度的关联，计算半球发射率。 ·专用设备：如美国D&S生产的AE1/RD1半球发射率测量仪，通过探测样品表面辐射能量直接计算发射率。三、区别总结特性法向发射率 (εn) 半球发射率 (εh) 定义域表面法线方向 (θ=0°) 整个上半球空间 (2π立体角方向积分平均值) 物理意义表面在特定方向上的辐射强度特征表面在半球空间内的总辐射发射能力表征测量难度相对较低(单方向测量) 较高(需要收集或积分整个半球空间辐射) 适用性有限。仅对朗伯表面近似有效；用于非朗伯表面或计算总能量误差显著普适且必需。为辐射换热分析与热设计的核心输入参数数值差异镜面反射材料 (抛光金属等)：εn << εh 漫反射材料 (粗糙表面、氧化层)：εn ≈ εh(较理想漫射近似) 四、总结搞热相关的朋友，发射率这个参数是基础中的基础，但千万分清半球εh (工程金标准)和法向εn ！定向辐射测量宜用 εn：例红外测温标定、特定视角遥感。整体辐射评估必用 εh：例热设计、能量平衡、传热模拟。热辐射的本质是材料表面向整个半球空间发射能量。想快速、准确、直接地测量真正的半球发射率εh，尤其是实验室日常测试。目前，AE1/RD1便携式发射率测量仪是目前非常值得信赖的选择。

红外测试基本原理——光热四参数：反射率ρ、发射率ε、吸收率α和透射率τ

当光线与物质相遇，反射率（ρ）、发射率（ε）、吸收率（α）和透射率（τ）这四个参数便开始了能量分配的精密协作。它们并非孤立存在，而是被能量守恒定律和基尔霍夫定律紧密联系，共同决定着物质与光热的互动规律。在红外测试领域，这组关系尤为关键。符号定义相互关系吸收率 α 被物体吸收的辐射能与入射辐射能之比 α = 1 - ρ - τ 反射率 ρ 被物体反射的辐射能与入射辐射能之比 ρ = 1 - α - τ 透射率 τ 透过物体的辐射能与入射辐射能之比 τ = 1 - α - ρ 发射率 ε 物体发射的辐射能与同温度黑体发射的辐射能之比 ε = α 一、能量守恒：光的 "三角" 分配法则当光线或热辐射撞上物体表面，能量只有三条去路：被吸收、被反射，或直接穿透。这就是能量守恒定律给出的铁律。 α（吸收率） + ρ （反射率）+ τ（透射率） = 1 它清晰表明：吸收、反射、透射是辐射能量必然的三种归宿，此消彼长。特例：不透明物体的简化关系对于绝大多数不透明体（τ ≈ 0），等式简化为 α + ρ ≈ 1。这意味着不透明物体表面吸收能力越强，其反射能力必然越弱，反之亦然。雪地耀眼的白光反射（ρ 高）正源于其对可见光极低的吸收（α 低），而深色沥青路面因高吸收（α 高）呈现低反射（ρ 低），两者共同印证着能量守恒的约束。二、基尔霍夫定律：吸收与发射的 "能量镜像" 被吸收的能量不会永远留在物体里 —— 它们最终会以热辐射的形式 "吐" 出来，而发射率（ε）就是衡量 "吐能力" 的指标。这时候，基尔霍夫热辐射定律抛出了一个反常识的结论：在热力学平衡下，某一波长的吸收率 = 同一波长的发射率（ελ = αλ）简单说："能吃多少，就能吐多少"。一个擅长吸收红光的表面，必然也是红光的高效发射体；反之，对某波长反射强（吸收弱）的表面，在该波长下的发射能力也弱。三、关键特性：光谱依赖性与方向性值得注意的是，这组关系具有光谱依赖性与方向性。同一物体对不同波长的辐射，其 α、ρ、τ、ε 值可能差异巨大。磨光的金属在可见光下可能反射强烈（ρ高），但在红外区却可能是良好的发射体（ε高）。同样，多数参数也随入射或观测角度变化。这意味着在描述一个表面的光学性质时，必须明确指出所针对的波长范围和方向（入射或出射）。因此，在实际应用中，红外发射率直接关联着物体的吸热效率和散热能力，其精准测控关乎产品性能。四、红外发射率测量仪的重要性无论是科研探索还是工业生产，红外发射率测量仪都是不可替代的核心设备，其应用场景覆盖多个领域： • 材料研发：开发新型节能材料、红外隐身材料时，需要测量仪精准绘制材料的红外发射率光谱，验证设计思路； • 质量检测：建筑玻璃、汽车隔热膜、家电散热片的生产中，用测量仪快速筛查不合格产品，避免因 ε 不达标导致的性能缺陷； • 气候与环境研究：测量地表（土壤、植被、水体）的红外发射率，为气候模型提供关键参数，更精准预测全球变暖趋势； • 医疗与安防：红外体温计、热成像仪的校准依赖已知 ε 的标准样品，而标准样品的参数正是由高精度测量仪标定的。红外辐射看不见摸不着，理解四参数关系是基础，而精准测量红外发射率是实现能量调控的前提。如果你正在研发新材料、优化产品热性能，或从事红外相关测试，一台可靠的红外发射率测量仪，将帮你打通理论与应用的最后一公里。

国产超高温黑体校准源优选——3000℃超高温

一、公司超高温系列产品公司超高温系列覆盖600-3000℃黑体校准源，其中H-3000产品打破了美俄等国在该领域的技术与市场垄断，成功攻克温度稳定性不足和加热速度缓慢等多项技术难题，填补国内市场在高温黑体领域的空白。该系列具备快速加热、高精度和移动式设计等显著优势。相比国外同级别设备体积庞大、需专用空间的痛点，超高温系列采用立体滚轮设计，在保持同等高强性能的同时，大幅缩减空间占用，使用更灵活高效。目前产品已成为高温黑体市场的备受欢迎的产品，为用户提供可靠稳定的性能支持。二、超高温系列的独特优势 1.性能卓越，使用更便捷 l 发射率高（0.995）：满足绝大多数高精度需求（如军工、航天应用）。 l 温度范围广（600-3000℃）：适配多类高温测试场景。 l 响应快速（达到额定精度120S）：高效支持频繁启停的生产线校准工作，提升作业效率。 l 结构设计精巧（国内唯一）：采用立体滚轮结构的超高温黑体，尺寸仅为 600×1800×800mm，较同类产品大幅节省空间，实验室与生产线环境均可灵活安放。 2.成本可控，性价比突出在核心部件（如腔体）选用优质进口材料（石墨）采用进口石墨腔体材料，配备外接水冷和氩气保护，确保核心性能不缩水的前提下，通过工艺优化实现成本精控，产品价格预计较美国MIKRON低50%，为客户带来高性价比选择。 3.售后保障，服务更贴心 l 本土服务优势：作为国内企业，对自身产品特性了解更深入，能提供更便捷、更专业和更经济的售后支持，响应速度与服务质量更有保障。 l 品质为本：产品主打过硬品质，致力降低售后需求，使用寿命可达10-20年，为客户减少客户长期使用中的维护困扰。三、总结：国产最优选——超高性价比从打破技术壁垒、填补国内空白，到凭借卓越性能、可控成本与贴心售后构建起的全方位优势，这款国产超高温黑体校准源无疑为行业提供了高性价比的可靠选择。

差分/绝对模式——面源黑体校准源的两种模式

在黑体校准源中，超精密差分面源黑体的两种工作模式各有神通，一起来看看吧！差分模式：捕捉细微温差它以环境温度（固定为25℃或20℃的基准黑体）为参照，比较目标黑体与基准之间的温度差。相对温度测量是它的核心，不纠结于绝对温度，只关注两个黑体源之间的温度差异。凭借高灵敏度，它能精准测量微小的温度差异，从而获取高精度的热辐射数据。这种模式的产品制作精细，特别适用于那些需要高灵敏度温度差异测量的场合。绝对模式：提供稳定参考该模式黑体辐射源的温度可以独立设置和控制，其表面的辐射温度已知且能保持恒定。通过精确的温度控制系统，它能实现对温度的精准设定和维持，确保绝对温度控制的可靠性。作为独立的校准源，它能为其他设备提供可靠的测试标准。在实际应用中，它主要用于校准红外测温仪、热像仪等设备，提供稳定的温度参考。值得一提的是，在实际使用中，将两种模式结合起来，能让我们获取更精准、全面的数据结果哦！

面源黑体全知晓：从概念到产品的系统梳理

在红外检测、设备校准等领域，面源黑体作为关键的辐射源设备，其性能与应用直接影响着相关工作的精度和可靠性。本文将带大家从基本概念、分类和工作模式，再到具体的产品，简单了解这一设备。一、什么是面源黑体黑体炉，又称黑体校准源、黑体辐射源，是一种能够模拟理想黑体辐射特性的设备，它能够吸收所有波长的辐射能量，并且不会反射或透过能量。根据腔体结构不同，黑体炉可分为面源黑体炉和腔式黑体炉。其中，面源黑体炉是一种肉眼能看到靶面的黑体射源，它具有相对较大的发射表面，通过高传导性、高保温性靶底与发黑处理，达到规定的辐射率、稳定性、均匀性。这样的黑体炉吸收的电磁辐射较少，通过人为处理辐射率可达0.95以上，在红外热成像测试仪等校准工作中发挥重要作用。二、面源黑体分类 1.工作温度——最常见的是按照工作温度范围分类，面源黑体可分为超低温、低温、中温和高温，各类别分别适配不同的工作场景，满足多样校准需求。 2.结构——依据靶面与控制器是否为一体化结构，面源黑体可分为一体式和分体式： ·一体式：采用固定结构设计，具有稳定性高的优势。 ·分体式：因靶面与控制器相互分离，设备便于携带，控温性能更优，但成本相对较高，常用于热像仪的校准工作。三、面源黑体的两种工作模式在众多面源黑体中，超精密差分面源黑体其工作模式分为差分/绝对模式，具体特性如下： 1.差分模式：比较黑体与环境温度（固定为25℃或20℃的基准黑体）之间的温度差。 ·相对温度测量：主要关注两个黑体源之间的温度差，而不是绝对温度。 ·高灵敏度：通过测量微小的温度差异，获得高精度的热辐射数据。 ·应用场景：该模式产品制作精细，适用于需要高灵敏度温度差异测量的场合。 2.绝对模式：黑体辐射源的温度可独立设置和控制，其黑体表面的辐射温度已知并保持恒定。 ·绝对温度控制：通过精确的温度控制系统设定和维持温度。 ·独立校准：作为独立的校准源，为其他设备提供测试标准。 ·应用场景：主要用于校准红外测温仪、热像仪等设备，提供温度参考。实际应用中，两种模式可结合使用，从而获取更精准、全面的数据结果。四、面源黑体产品 MS系列超精密面源黑体可输出标准红外辐射，用于红外成像器的地面辐射定标试验与性能测试。该系列采用TEC温度驱动方式，搭配自主研发的温度控制系统，实现宽温范围内的精确调控。凭借高发射率、高均匀性与高控温精度的特性，MS系列超精密面源黑体能够满足实验室、外场等多种场景下，红外成像器辐射定标与非均匀性校正的应用需求。在选购面源黑体产品时，除了核心的发射率指标外，温度范围、控温精度、温度稳定性、温度均匀性及靶面尺寸是需重点考量的五大参数。与腔式黑体炉相比，面源黑体在实际应用中更倾向于根据具体场景进行定制化配置，以便更精准地契合用户的个性化需求。综上所述，面源黑体在多个领域都有着不可替代的作用，而选择合适的产品至关重要。如果您还想了解更多关于面源黑体的信息，或者在产品选择上有疑问，欢迎随时来电咨询！

红外测温基础设备——黑体校准源

你是否想过，当你用红外体温计测量体温时，是什么保证了显示的 36.5℃是准确的？当工厂的高温炉显示 “1200℃” 时，又是什么让这个数字值得信赖？今天，我们要揭开一个隐藏在所有温度数据背后的 “隐形标准”—— 黑体校准源。它作为一把无形的尺子，保证我们生活和工作中温度测量的精准性。一、什么是黑体校准源？黑体校准源也叫黑体辐射源。简单来说，黑体校准源是一种能够模拟 “理想黑体辐射特性” 的设备。理想黑体是一个能够完全吸收所有入射辐射，并且在任何温度下都能以最大效率发射辐射的物体，它的辐射特性只与温度有关。而黑体校准源就是要尽可能地接近这种理想黑体的特性，为其他测温设备提供一个标准的热源。我们可以把黑体校准源比作 “标准砝码”，而测温设备就像是 “体重秤”。只有用标准砝码校准过的体重秤，称出来的重量才是准确的。同样，只有经过黑体校准源校准的测温设备，测量出来的温度数据才具有可信度。二、黑体校准源的核心原理：黑体辐射定律任何物体都会向外辐射能量，而且温度越高，辐射的能量就越强，辐射的波长分布也会随着温度的变化而改变。理想黑体理想黑体能 100% 吸收并辐射能量（发射率≈1），其辐射特性完全由温度决定，这就是黑体辐射定律的核心内容。黑体校准源正是利用了这一原理，它能够稳定地输出已知温度的辐射能量。当我们用测温设备去测量黑体校准源的温度时，测温设备会接收到黑体校准源发出的辐射能量，然后根据自身的算法计算出温度值。如果测量值与黑体校准源的实际温度值不一致，我们就可以通过调整测温设备来进行校准，直到测量值准确为止。三、黑体校准源的重要性（一）规避测量误差风险未经黑体校准源校准的测温设备，易产生数据偏差。工业生产中，轴承淬火时 5℃的温度误差，就可能改变产品硬度，缩短使用寿命，导致整批报废；医疗场景下，体温测量误差则可能延误病情诊断与治疗。（二）确保量值统一可比黑体校准源作为标准热源，通过计量机构逐级传递，统一不同地区、厂家测温设备的校准标准，使实验室、工厂、医院等场景下的温度数据具备互比性，实现测量结果的一致性与通用性。四、应用覆盖多行业行业领域应用场景核心价值工业制造高温炉、轧钢测温、半导体晶圆测温保证生产工艺稳定医疗健康红外体温计、热像仪校准确保体温检测精准科研实验室材料热特性研究、天体物理模拟提供高精度温度基准航空航天发动机测温、航天器热控校准极端环境下数据可靠）计量检测各级计量院、第三方检测机构校准其他测温设备五、关于黑体校准源的冷知识黑体校准源也需要校准很多人可能会认为，黑体校准源作为标准热源，自身是不需要校准的。但实际上，黑体校准源在使用过程中，其发射率、温度稳定性等性能会随着使用时间的增加和磨损而发生变化。因此，黑体校准源也需要定期送到专业的计量机构进行校准，通常每1-2年校准一次，以确保其量值能够溯源至国家基准。在温度计量体系中，黑体校准源作为核心基准器具，广泛应用于医疗健康、航空航天、工业制造及科研实验等多领域温度量值传递。作为温度量值传递链条中的关键节点，黑体校准源虽不直接参与终端测量，却通过建立可靠的温度标准，为现代社会生产生活的温度计量需求构筑起坚实的技术支撑体系。

黑体校准源|黑体辐射源|黑体炉的理论基础与应用

一、黑体辐射源的基础理论（一）普朗克定律普朗克定律描述了黑体在不同温度下发射的电磁辐射的能量分布与波长的关系。该定律表明，黑体的辐射能量随波长的变化呈现出特定的分布规律，且这种分布只与黑体的温度有关。在给定温度下，黑体辐射存在一个能量最大的波长，温度越高，这个最大能量波长越短。其中，u(λ,T)表示温度为T时，波长为λ的辐射功率密度，T是热力学温度，h为普朗克常数，c为光速，k是玻耳兹曼常数。（二）斯蒂芬—玻尔兹曼定律斯蒂芬—玻尔兹曼定律揭示了黑体单位面积在单位时间内辐射出的总能量与黑体温度的四次方成正比。这一定律表明，黑体的总辐射能量随着温度的升高而急剧增加。其中，L表示黑体的绝对光度；r表示观测点对应被观测黑体的距离；S表示黑体常数。（三）维恩位移定律在一定温度下，绝对黑体的温度与辐射本领最大值相对应的峰值波长λ的乘积为一常数，式中，b=0.002897m·K，称为维恩常量。它表明，当绝对黑体的温度升高时，辐射本领的最大值向短波方向移动。二、黑体辐射源的应用场所 l 稳定性能较高测温仪，热像仪温度校准 l 光谱分析仪校准 l 光电校准系统 l 辐射计、热流量计校准三、黑体产品推荐黑体性能可靠、稳定，其优势包括高发射率、高均匀性、高稳定性、升温速度快、开孔尺寸可定制。 1.温度范围广：面源黑体和腔式黑体涵盖了从低温到高温的各类应用场景，有适用于低温校准的产品、中温黑体炉、超高温黑体源，最高工作温度可达3000°C。客户可以根据自己的具体需求选择合适的温度范围黑体源。 2.高发射率：黑体的发射率可达到0.99甚至更高，在特定波长范围内的发射率可达到较高水平。高发射率意味着黑体源能够更接近理想黑体的辐射特性，从而提供更准确的辐射温度，有效提高了温度测量和校准的精度。 3.温度准确性高：黑体源的温度测量精度度较高，能够为用户提供准确的温度标准。例如，其部分产品的测量不确定度可以达到读数的0.25%±1℃，在业内处于较高水平。 4.温度稳定性好：在长时间运行过程中，铠博瑞黑体温度稳定性出色，每8小时的温度变化极小，通常在±1°C以内。这意味着在长时间的使用过程中，黑体源能够持续提供稳定的温度输出，保证校准结果的可靠性和可重复性。 5.温度均匀性佳：采用先进的技术确保黑体腔内表面温度均匀。良好的温度均匀性使得黑体源在不同位置的辐射温度差异极小，无论是对单点还是多点的温度测量和校准，都能提供准确的结果。 6.升温快：方便产品快速高效达到理想温度，提高实验效率。其中H3000超高温黑体室温至2000℃仅需5min。综上所述，黑体凭借其领先的技术、广泛的应用领域和突出的设备特点，成为了高温黑体领域的佼佼者。旭阿科技(上海)有限公司是一家技术分享策略的综合性仪器服务型公司，仪器设备种类包含分析测试仪器、半导体封测设备、科学实验室建设、非标设备定制等。我们代理的黑体校准源，拥有丰富的行业应用经验，欢迎读者咨询。

低频等离子清洗（40KHz）的物理清洗效果不如高频（13.56MHz）？恰恰相反！

等离子清洗机(plasma cleaner)是一种利用等离子体的“活性”组分（离子、电子、原子、活性基团、激发态的核素（亚稳态）、光子等）处理样品表面，从而实现清洁、涂覆等目的的表面处理设备，最常见的等离子清洗机频率有低频（40KHz）和高频（13.56MHz）。如果有人问，谁的物理处理效果更好？你会不会顾名思义回答高频，但答案却与之相反。一、两种频率介绍激发频率为40kHz的等离子体为超声等离子体，其发生的反应为物理反应，主要是利用等离子体里的离子作纯物理的撞击，把材料表面的原子或附着材料表面的原子打掉。多见于小尺寸的真空等离子清洗装置。激发频率为13.56MHz的等离子体为射频等离子体，其发生的反应既有物理反应又有化学反应。两种清洗可以互相促进，离子轰击使被清洗表面产生损伤削弱其化学键或者形成原子态，容易吸收反应剂，离子碰撞使被清洗物加热，使之更容易产生反应。二、低频清洗处理效果好的原因首先我们要知道，随着频率升高，离子浓度增大，离子能量却下降。前文提到低频等离子清洗反应为物理反应，由于离子在压力较低时的平均自由基较轻长，能量得到累积，因而在物理撞击时，离子的能量越高，撞击效果越好。因此其等离子体在与工件表面作用时，离子能够以较高的能量撞击表面。这种强大的物理撞击力，对于去除那些附着牢固、污染较重的杂质效果显著。而高频（13.56MHz）等离子清洗是物理与化学作用协同，并且物理处理不占有绝对优势。在去除零件表面杂质时，离子撞击破坏表面化学键的同时，促进了自由基吸附与反应。然而，当面对污染严重情况时，虽作用次数更密集，但单次离子能量较低，其物理撞击力相对低频较弱，难以快速、彻底地清除污染物，往往需要更长的处理时间或者更高的功率。但并不是所有的应用都要求高清洁效果，对于精细化场景，比如微流控PDMS键合、半导体芯片等的，低频的高强度物理撞击很有可能会损伤材料，而高频以化学反应为主，能很好满足应用需求。用一句话总结：低频是“大锤”，高频是“绣花针”。因此，选择等离子清洗机时，切勿盲目迷信高频，要根据使用场景选择合适的频率，科学选品! 目前，公司主要代理激发频率为40kHz和13.56MHz等离子清洗机，想了解更多产品信息欢迎来电咨询。

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