半球发射率测量仪AE1/RD1—

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半球发射率测量仪AE1/RD1—— 美国 D＆S

半球发射率测量仪AE1/ RD1是用于测量发射率的专用仪器。符合《ASTM C1371》、《JG_T 235-2014 建筑反射隔热涂料》、《GBT 25261-2010 建筑用反射隔热涂料》等国家发射率测量标准，是科研材料研究、建筑涂料行业、新能源材料研究和航空航天材料研发检测的必需品。

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技术参数

行业应用

AE1/RD1半球发射率测量仪

半球发射率测量仪AE1/ RD1是用于测量发射率的专用仪器。符合《ASTM C1371》、《JG_T 235-2014 建筑反射隔热涂料》、《GBT 25261-2010 建筑用反射隔热涂料》《GJB 2502.3-2006 航天器热控涂层试验方法第三部分：发射率（国家军标）》等国家发射率测量标准。

低温加热被测样品，仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量换算出发射率，根据设定的标准体发射率准参数，计算并读出被测样品发射率。

产品特点：

高重复性：测量重复性高达±0.01，保证每次测量结果的可靠性。
操作简单：采用电加热设计，无需对样品额外加热或测温操作。
快速测量：仅需预热约30分钟，每1.5分钟即可测量一次发射率，单次测量耗时仅10 s。
价格经济：高性价比，适合多种预算范围的实验需求，维护成本低。

技术参数

读数器	D&S微型数字伏特计，型号RD1
输出	材料温度为25℃时，2.4毫伏通常对应材料发射率为0.9
线性	检测器输出和发射率成线性关系，精度为±0.01发射单位。
测量时间	10 s
加热装置	加热被测样品，使其在与标准体温度相同的情况下被测量
样品温度	最大130华氏度，约为55℃
漂移	输出可能会随着环境而变化，但是在短时间测量内可以忽略不计。
标准体	提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体，其中一套标准可用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参比。
电源	100-240 V/50-60 Hz，12 V直流输出
测量波长	3-30 μm
测量范围	0-1
测量精度	±0.01
被测样品尺寸	MinΦ5.7 cm(可选配最小测量尺寸Φ2.3cm)
测量温度	10℃—55℃
外形尺寸	探测头Φ57×107 mm，测量台H46 mm×宽105 mm×D152 mm
标准配置	AE1探测头，高发射率标定块和低发射率标定块各2个，发射率测量仪，电源线，CD教学视频、校准证书、操作手册、手提箱。