首页产品中心黑体校准源HY-ML系列超低温面源黑体(150K~450K)
HY-ML系列超低温面源黑体(150K~450K)

HY-ML系列超低温面源黑体为真空环境适用的面源黑体产品,在较宽的温度区间内(150K~450K,低温均可扩展至40K)实现精准调控。该面源黑体具有温度均匀性好、发射率高的特点,集成化与标准化程度较高,可应用于实验室及真空低温环境下红外成像器的辐射定标和非均匀性校正。

产品详情

技术参数

行业应用

HY-ML系列超低温面源黑体(150K~450K)

产品型号:

超低温面源黑体HY-ML--100/200/300/FB

支持非标定制:公司型号较多,如选型麻烦,欢迎致电联系

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HY-ML系列超低温面源黑体为真空环境适用的面源黑体产品,其温度控制采用薄膜型加热器件,主动降温则通过液氮或低温循环氦气实现。搭配自主研发的温度控制系统后,能够在较宽的温度区间内(150K~450K,低温均可扩展至40K)实现精准调控。该面源黑体具有温度均匀性好、发射率高的特点,同时集成化与标准化程度较高,可应用于实验室及真空低温环境下红外成像器的辐射定标和非均匀性校正工作。

一、设备特点

主要特点:


  • 绝对温度可调节(150K~450K,低温均可扩展至40K)
  • 高均匀度、高发射率辐射面
  • 0.01K温度分辨率
  • 能够在广泛的环境温度下运行(100K)


电气特点:


  • 带有用户操作的大型彩色LCD显示屏界面
  • 元器件100%国产化(可选)
  • 以太网/RS-485/RS-422远程通信端口



技术参数

型号:HY-ML-

100

200

300

FB

有效口径(mm)

100×100

200×200

300×300

可到10m×10m

绝对温度范围

150K~450K(低温均可扩展至40K)

温度分辨率

0.001K

法向有效发射率

0.98±0.02

辐射面温度均匀性

0.5@[150K,200K],0.2@(200K,450K)

温度稳定性

0.05K/min

测温准确度(传感器)

±(0.06℃+0.005|t|)

辐射源尺寸

(宽高深mm)

150×180×80

280×320×160

400×460×220

定制

辐射源重量(Kg)

12

30

50

定制

MAX功耗(KW)

1.0

2.2

3.5

定制

供电要求

220VAC50/60Hz

定制

控制器尺寸(宽深高mm)

483×400×135(3U)

483×400×178(4U)

定制

控制器重量(Kg)

16

35

定制

通讯接口

RS-422/RS-485/RS232/以太网

工作环境温度(辐射源)

100K

工作环境温度(控制器)

-10℃~40℃

贮存温度

-40℃~70℃

行业应用


  • 测温仪,热像仪温度校准
  • 光谱分析仪校准
  • 光电校准系统
  • 辐射计、热流量计校准


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