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微流控芯片制备：等离子清洗机键合与高速成像技术

2025/8/22

微流控芯片技术是一种被称为“芯片实验室”的微小装置，能在微米级通道中精确操控微量流体，实现化学和生物领域的多种操作，因其样品消耗少、反应速度快、集成度高等优势，已成为生物医学诊断、环境污染物快速检测、新药研发等领域的核心技术之一。在生物医学、环境监测等领域展现出巨大潜力。

而在其研究与应用中，等离子清洗技术与高速成像系统两个看似不相干的设备，却意外联动。利用等离子体完成对芯片表面处理、简单加工完成产品后，高速相机随即捕捉流体在微通道中的瞬息变化，二者协同工作，共同揭开了微观世界的神秘面纱。

一、等离子清洗机：建立键合基础

微流控芯片的核心在于精密结构的稳定性，而材料处理是关键。以常用的聚二甲基硅氧烷（PDMS）为例，它的低表面能与疏水性，使其在与其他材料进行键合时面临挑战，键合强度与稳定性往往难以满足实际应用需求。而等离子清洗技术的出现，为解决PDMS键合难题提供了高效且可靠的方案。

等离子清洗机也叫等离子清洁机，或者等离子表面处理仪，它通过在真空环境中电离气体产生等离子体，高活性的离子和自由基与PDMS表面发生反应：①等离子体可有效去除PDMS表面污染，为后续表面改性打下良好基础；②通过等离子处理在PDMS表面引入亲水基团（如-OH等），这种表面改性后的PDMS可以与玻璃、硅片等其他材料实现键合。例如CIF射频频率13.56 MHz的等离子清洗机，在PDMS键合领域得到了成功应用。

二、高速相机：捕捉微观流动

利用等离子清洗机处理芯片简单加工完成产品后，其通道中的快速过程则需要高速相机来“捕捉”。液滴在微流控芯片通道中的高速分裂、合并以及与通道壁面相互作用的瞬态过程，往往发生在毫秒甚至微秒级，传统设备难以追踪，而高速相机凭借高帧率和高分辨率，成为观察这些过程的“显微利器”。

高速摄像机通过超短曝光（<1/1000秒）或高帧率（>250帧/秒）捕捉运动图像，用于记录肉眼无法观测的高速运动轨迹，并支持慢动作回放。它能清晰捕捉液滴在微通道内的分裂、撞击及反弹过程，为科研分析提供关键数据。以日本NAC超高速摄像机为例，其全画幅分辨率达1280×896，此时拍摄频率高达50,000帧/秒，配套软件可同步计算液滴速度、尺寸等参数，指导工艺优化，充分满足微流控研究需求。

三、总结

等离子清洗与高速成像的联动，推动微流控芯片向高精度与高可靠性跃进。

等离子清洗机通过材料表面改性，确保微流控芯片“可制造”；高速相机则通过捕捉液滴动态过程，实现芯片性能“可分析”。两者协同作用，不仅优化实验工艺，推动微流控芯片从实验室走向产业化，更让微流控芯片在精准医疗、环境监测等领域的应用看得更清、走得更稳。

从原理到关键技术，探索看不见的“热信号”

当我们用手靠近一杯热水，不用接触就能感受到热量 —— 这背后，是热水在不断向外辐射一种看不见的光：红外光。这种看不见的光，不仅是自然界的生存利器，更成为现代科学与技术的重要工具。红外测试技术，就是解读这种“热信号”的关键，而热像仪和红外发射率测量仪，则是让这一技术发挥价值的核心环节。一、什么是红外光？光的本质是电磁波，我们肉眼可见的红、橙、黄、绿、青、蓝、紫光线，只是电磁波中的一部分（波长约380-760纳米）。而红外光的波长更长（760纳米-1毫米），位于可见光的红光之外，因此得名“红外”。物体只要温度高于绝对零度（-273.15℃），就会不断向外辐射红外能量，且温度越高，辐射的能量越强。不同物质的分子结构、化学键振动方式不同，辐射的红外光波长和强度也会呈现独特的“信号”。比如，冬天烤火时，我们没接触到火焰却能感到温暖，正是因为火焰辐射的红外光被皮肤吸收，转化成了热量。二、热像仪：让红外光“显形” 眼睛红外光看不见，我们如何读取它携带的热量信息？这就需要红外测试的核心工具——热像仪。热像仪是捕捉红外信号的核心设备，它能将物体的红外辐射转化为肉眼可见的热图像——图像中不同颜色代表不同温度（通常红色、黄色表示高温，蓝色、紫色表示低温）。通过热图，我们能直观看到物体表面的温度分布——比如电路中的故障点会因过热呈现“红色亮点”，建筑外墙的保温缺陷会显示为温度异常区域。热像仪的精度直接决定了应用价值，因此，对热像仪进行定期测试校准至关重要，这能确保它在不同环境（如高温、潮湿）下都能输出可靠数据，避免“误判”造成的风险。FOTRIC 280+系列科研热像仪微距镜头达60Hz帧频，测温精度±1℃，具备强大的硬件支撑与测试分析系统，实时监测被测物，操作简单，是高校、名企的优选专家级科研热像仪。三、红外测温校准：解读热量信号使用热像仪时，有一个关键参数会影响测量结果——红外发射率。红外发射率是衡量物体辐射红外能量能力的物理量，取值范围为0-1。发射率越接近1（如黑体），物体越容易辐射红外能量；发射率越接近0（如镜面、光滑金属），则更倾向于反射环境中的红外光，而非自身辐射。举个例子：冬天的金属扶手和木质扶手温度相同，但触摸时金属更凉——这是因为金属发射率低，更易吸收热量；而在热像仪中，金属的“显示温度”可能远低于实际温度，因为它反射了周围的低温信号。若不考虑发射率，热像仪的测量结果会严重失真。因此，在使用红外技术时，准确测定物体的红外发射率，是保证数据可靠性的前提。无论是科研实验中的精密测量，还是工业生产中的质量控制，都需要先掌握发射率这一关键参数。H-3000黑体作为国产首款3000℃黑体炉，凭借其快速加热、高精度和移动式设计等显著优势，已成为高温红外校准黑体市场的备受欢迎的产品。四、总结：红外世界的探索从看不见的红外光，到让它显形的热像仪，再到修正误差的发射率，研究人员一步步加深对红外世界的探索。红外光的特性与热像仪、发射率的精准控制，共同构成了红外测试技术的基础。如今，这项技术已渗透到我们生活的方方面面：从航空航天设备的温度探测，到日常生活中的家电质检，都离不开对这些基础参数的研究。

太阳能反射率测量仪：精准把控反射率，赋能多行业高效发展

在太阳能行业，太阳能板吸收板的表面涂层会直接影响发电效率，太阳能塔的涂覆材料反射性能可反映聚光系统能量聚焦效果，可见反射率的精准把控对太阳能行业至关重要，而太阳光吸收比/反射比测量仪正是实现这一精准把控的关键工具，它在各行业的实际应用中，同样发挥着不可替代的作用。一、太阳能反射比太阳能反射比指材料表面吸收的太阳辐射能与入射到该表面的总太阳辐射能之比，其值介于0和1之间，数值越大表示材料对太阳光的吸收能力越强。太阳光谱是一个宽波段范围，太阳平日所放出来的光谱主要来自太阳表面绝对温度约6000度的黑体辐射，光谱可见光的波长范围在770～390 nm之间。太阳能反射率测量仪凭借其卓越性能，可以实现精准量化测量，通过专业光学传感器，将反射率数值误差控制在±1%以内；操作高效便捷，几分钟内就能完成单次测量，无论是实验室还是户外现场，都能轻松应对；同时支持数据溯源，满足项目验收、科研记录等合规性需求，为各环节提供可靠的数据支撑。二、多行业的刚需之选太阳能吸收比/反射比测量仪可测量太阳能吸收比与反射比，进一步进行热控材料与涂层研究、材料热传导性能监测、涂覆材料太阳吸收比与反射比研究和电镀材料太阳能特性研究。因此除了太阳能行业，太阳能反射率测量仪有着广泛应用，如 · 建筑行业：建筑材料太阳能反射性能监测与评估 · 航空航天行业：各种基材与涂覆材料的太阳能辐射性能 · 农业行业：优化温室大棚覆盖材料的反射率，调节棚内光照。三、选择太阳能反射率测量仪的关键指标选择一款合适的太阳能反射率测量仪，需要关注以下关键指标。 · 测量范围：能覆盖常用材料的反射率区间。 · 稳定性：在高温、潮湿、强光等户外环境下，数据依然要可靠。 · 便携性：方便户外作业，重量轻且配备充电电池。 · 附加功能：数据传输与储存，贴合实际使用需求。四、我们的太阳能反射率测量仪优势凸显我们的RLK350便携式太阳能吸收比/反射比测量仪具有诸多优势。它符合ASTM E903和C1549太阳能反射比国际标准，符合GJB2502.2-2015标准，数据可靠；重量仅为1.8kg，仪器及所有配件收纳在ABS手提仪器箱中，方便携带：可在-10℃～+45℃环境下稳定工作，场景全适配，室内、外场、野外都能胜任；配备彩色触摸屏，全中文界面，一键测量（＜10s）+SD卡数据存储，智能便捷。综上所述，太阳能反射率测量仪不仅是太阳能行业实现反射率精准把控的核心工具，更凭借其广泛的适用性、可靠的性能和便捷的操作，成为多领域的刚需之选。选择一款符合标准、稳定便携且功能适配的测量仪，对提升研究精度、优化材料应用效果至关重要。我们致力于为各行业提供准确、高效的数据支持，助力行业在材料研究与应用中实现更优发展，欢迎评论交流！

红外隐身涂层发射率如何测量？

几乎每个人的孩童时期都幻想自己能有一身隐形衣，穿上就能让别人看不见自己。而在真实世界中，这种技术正通过一种神奇的材料变为现实：红外隐身涂层。无论是歼-35的次亮相宣告中国空军正式迈入“双隐形战机时代”，还是歼-36的新型隐形蒙皮打破美国在隐身技术上的垄断，其中都蕴含着材料红外发射率的精确操控。一、红外发射率根据基尔霍夫热辐射定律，处于热力学平衡态的不透明物体，其对特定波长辐射的光谱吸收率（αλ）恒等于其同温度、同波长的光谱发射率（ελ），即：αλ=ελ。发射率ε定义为物体实际表面在给定温度T、波长λ下的辐射出射度与同温度、同波长下理想黑体辐射出射度之比，取值范围在0到1之间。所有物体都在持续向外散发红外辐射，军用装备（如飞机）因发动机工作或气动摩擦产生的热量，在红外探测器下如同黑夜中的火炬般显眼。降低这种可探测性的关键，在于控制物体表面的红外辐射特性，降低其被红外探测系统发现的概率，而发射率是衡量这一调控效果的关键参数。二、测量方法——GJB 2502.3-2006 根据《GJB 2502.3-2006 航天器热控涂层试验方法第三部分:发射率(国家军标)》，将发射率测量方法分为半球发射率稳态量热计法、法向发射率、辐射计法及反射法—便携式等。 1.半球发射率稳态量热计法：测定航天器热控涂层被测试样和参比试样的半球发射率。半球发射率测试范围为0.03～0.98,测试精度为0.01。将试样置于真空冷壁中，其热辐射可由外加电功率来补偿。按公式计算试样半球发射率。式中： εH—半球发射率； U1——标准电阻的端电压，单位为伏(V); U——主加热器的端电压，单位为伏(V); σ——斯忒藩一玻耳兹曼常数，其值为5.67×10……-8,单位为瓦每平方米每四次方开(W/(m2K4)) F——试样热辐射的表面积，单位为平方米(m2); R——标准电阻的电阻值，单位为欧姆(Ω); T1——试样温度，单位为开(K); T2—真空冷壁的平均温度，单位为开(K)。 2.法向反射率法：测定航天器热控涂层被测试样的法向发射率。法向发射率测试范围为0.04～0.98,测试精度为0.015。通过测试同一温度下被测试样的辐射指示值和黑体腔的辐射指示值，按公式(2)计算被测试样的法向发射率。式中：εn——被测试样的法向发射率；Φs——从检测仪器上读出的被测试样辐射指示值；Φb——从检测仪器上读出的黑体腔辐射指示值。 3.辐射计法：测定航天器热控涂层被测试样的半球发射率。半球发射率测试范围为0.03～0.95,测试精度为0.015。辐射计探测器的输出信号与被测试样的发射率成线性关系，通过比较辐射计配备的高、低发射率参比试样和被测试样输出信号的大小，直接得到被测试样的发射率。 4.6反射法一便携式：测定航天器和零部件表面热控涂层的半球发射率。半球发射率测试范围为0.04～0.95,测试精度为0.015。通过探测器检测到的椭球腔体里所有反射能，按下列公式计算试样的半球反射率。式中： ρ——试样的半球反射率； Ip——检测到的能量，单位为瓦每平方米(W/m²); TIR——红外辐射源温度，单位为开(K)。当试样为不透明时，试样的半球发射率按下列公式计算。三、反射法一便携式发射率测量发射率是红外隐身涂层“隐身能力”的直接体现，其测量贯穿于材料研发、生产质控、性能评估、方案验证的全流程。准确测量发射率，才能确保红外隐身涂层从设计到应用的每一步都可控、可靠，最终实现预期的隐身效果。 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪，是新型的光电测量仪器，可充分满足测试需求，广泛应用于材料表面红外发射率的测量、材料研究、性能评估。设备特点 ·测量原理：积分半球反射法测量原理； ·测量波段：3-5 μm & 8-14 μm双波段测量准确度高； ·测量体积更小、重量更轻； ·测量精度进一步提升； ·测量速度更快，测量效率更高； ·结构设计更为精巧，美观可靠； ·彩色触摸屏设计，全中文界面一目了然； ·支持MicroSD卡存储，TXT文件格式，方便后续数据分析。旭阿科技具有丰富的发射率测量仪代理经验，欢迎您来电或留言咨询。

红外隐身涂层发射率如何测量？

几乎每个人的孩童时期都幻想自己能有一身隐形衣，穿上就能让别人看不见自己。而在真实世界中，这种技术正通过一种神奇的材料变为现实：红外隐身涂层。无论是歼-35的次亮相宣告中国空军正式迈入“双隐形战机时代”，还是歼-36的新型隐形蒙皮打破美国在隐身技术上的垄断，其中都蕴含着材料红外发射率的精确操控。一、红外发射率根据基尔霍夫热辐射定律，处于热力学平衡态的不透明物体，其对特定波长辐射的光谱吸收率（αλ）恒等于其同温度、同波长的光谱发射率（ελ），即：αλ=ελ。发射率ε定义为物体实际表面在给定温度T、波长λ下的辐射出射度与同温度、同波长下理想黑体辐射出射度之比，取值范围在0到1之间。所有物体都在持续向外散发红外辐射，军用装备（如飞机）因发动机工作或气动摩擦产生的热量，在红外探测器下如同黑夜中的火炬般显眼。降低这种可探测性的关键，在于控制物体表面的红外辐射特性，降低其被红外探测系统发现的概率，而发射率是衡量这一调控效果的关键参数。二、测量方法——GJB 2502.3-2006 根据《GJB 2502.3-2006 航天器热控涂层试验方法第三部分:发射率(国家军标)》，将发射率测量方法分为半球发射率稳态量热计法、法向发射率、辐射计法及反射法—便携式等。 1.半球发射率稳态量热计法：测定航天器热控涂层被测试样和参比试样的半球发射率。半球发射率测试范围为0.03～0.98,测试精度为0.01。将试样置于真空冷壁中，其热辐射可由外加电功率来补偿。按公式计算试样半球发射率。式中： εH—半球发射率； U1——标准电阻的端电压，单位为伏(V); U——主加热器的端电压，单位为伏(V); σ——斯忒藩一玻耳兹曼常数，其值为5.67×10……-8,单位为瓦每平方米每四次方开(W/(m2K4)) F——试样热辐射的表面积，单位为平方米(m2); R——标准电阻的电阻值，单位为欧姆(Ω); T1——试样温度，单位为开(K); T2—真空冷壁的平均温度，单位为开(K)。 2.法向反射率法：测定航天器热控涂层被测试样的法向发射率。法向发射率测试范围为0.04～0.98,测试精度为0.015。通过测试同一温度下被测试样的辐射指示值和黑体腔的辐射指示值，按公式(2)计算被测试样的法向发射率。式中：εn——被测试样的法向发射率；Φs——从检测仪器上读出的被测试样辐射指示值；Φb——从检测仪器上读出的黑体腔辐射指示值。 3.辐射计法：测定航天器热控涂层被测试样的半球发射率。半球发射率测试范围为0.03～0.95,测试精度为0.015。辐射计探测器的输出信号与被测试样的发射率成线性关系，通过比较辐射计配备的高、低发射率参比试样和被测试样输出信号的大小，直接得到被测试样的发射率。 4.6反射法一便携式：测定航天器和零部件表面热控涂层的半球发射率。半球发射率测试范围为0.04～0.95,测试精度为0.015。通过探测器检测到的椭球腔体里所有反射能，按下列公式计算试样的半球反射率。式中： ρ——试样的半球反射率； Ip——检测到的能量，单位为瓦每平方米(W/m²); TIR——红外辐射源温度，单位为开(K)。当试样为不透明时，试样的半球发射率按下列公式计算。三、反射法一便携式发射率测量发射率是红外隐身涂层“隐身能力”的直接体现，其测量贯穿于材料研发、生产质控、性能评估、方案验证的全流程。准确测量发射率，才能确保红外隐身涂层从设计到应用的每一步都可控、可靠，最终实现预期的隐身效果。 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪，是新型的光电测量仪器，可充分满足测试需求，广泛应用于材料表面红外发射率的测量、材料研究、性能评估。设备特点测量原理：积分半球反射法测量原理；测量波段：3-5 μm & 8-14 μm双波段测量准确度高；测量体积更小、重量更轻；测量精度进一步提升；测量速度更快，测量效率更高；结构设计更为精巧，美观可靠；彩色触摸屏设计，全中文界面一目了然；支持MicroSD卡存储，TXT文件格式，方便后续数据分析。旭阿科技具有丰富的发射率测量仪代理经验，欢迎您来电或留言咨询。

航空航天领域红外测试设备：发射率测量仪与黑体校准源

在航空航天领域，极端环境对材料的热辐射特性提出了严苛要求。从飞行器穿越大气层时的高温灼烧，到太空中的深冷辐射，红外测试扮演着举足轻重的角色。其中，发射率测量仪与黑体校准源作为重要设备，确保航空航天领域材料热管理的可靠性。一、发射率的基础认知发射率（也称辐射率）是依据物体本身的温度辐射出能量的能力，描述被测物体辐射能力的参数。也指物体自身辐射的能量与同一温度下绝对黑体所辐射的能量比，用ε表示。理想黑体的辐射率等于1，其他物体的辐射率介于0和1之间。发射率的准确测定对于了解航天器表面涂层、隐身材料等需精确控制热辐射特性至关重要，它直接影响到材料热性能评估的可靠性。比如战机涂层需低发射率规避红外探测、航天器的部件需要高发射率散热。二、发射率测试仪的工作原理与特点发射率测试仪是专门用于测量物体发射率的仪器，根据《GJB 2502.3-2006 航天器热控涂层试验方法第三部分:发射率（国家军标）》，将发射率测量方法分为半球发射率稳态量热计法、法向发射率、辐射计法及反射法—便携式等。其中应用最为广泛、准确的为半球发射率稳态量热计法。该方法半球发射率测试范围为0.03～0.98，测试精度为0.01。 AE1/RD1半球发射率测量仪这类测试原理的仪器具有测量精度高、响应速度快、操作简便等特点。比如，RLK650 pro便携式红外发射率测量仪（国产）、AE1/RD1半球发射率测量仪（美国），两者都能在短时间内给出精准的发射率数据，并且操作简单，设计轻巧便携，大大提高了测量效率。 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪三、黑体校准源黑体校准源在红外测试中起着不可或缺的作用。黑体是一种理想化的物体，在任何温度下都能全部吸收外来的电磁辐射，并且向外辐射的能量只与温度有关。黑体校准源正是模拟了黑体的这种特性，提供了一个稳定、准确的参考辐射源，帮助评估材料的耐热性和热稳定性。比如航天器在进入大气层时会经历极高的温度，在太空中则会遭遇极端低温，因此需要对材料进行严格的测试。在高温测量中，H-3000黑体作为国产首款3000℃黑体炉，凭借其快速加热、高精度和移动式设计等显著优势，已成为高温黑体市场的备受欢迎的产品。低温测试中，ML系列超低温面源黑体温度区间较宽(150K~450K，低温可扩展至40K)、温度均匀性好、发射率高，可应用于实验室及真空低温环境下红外成像器的辐射定标和非均匀性校正工作。四、总结在航天领域中，发射率测量仪为航天器热控设计等提供准确的辐射特性参数，黑体校准源则作为温度测试的基准保障，共同助力航空航天新型材料的研发和应用。如果您在相关领域有发射率测试和红外校准需求，欢迎来电或留言咨询。

航空航天领域红外测试设备：发射率测量仪与黑体校准源

在航空航天领域，极端环境对材料的热辐射特性提出了严苛要求。从飞行器穿越大气层时的高温灼烧，到太空中的深冷辐射，红外测试扮演着举足轻重的角色。其中，发射率测量仪与黑体校准源作为重要设备，确保航空航天领域材料热管理的可靠性。一、发射率的基础认知发射率（也称辐射率）是依据物体本身的温度辐射出能量的能力，描述被测物体辐射能力的参数。也指物体自身辐射的能量与同一温度下绝对黑体所辐射的能量比，用ε表示。理想黑体的辐射率等于1，其他物体的辐射率介于0和1之间。发射率的准确测定对于了解航天器表面涂层、隐身材料等需精确控制热辐射特性至关重要，它直接影响到材料热性能评估的可靠性。比如战机涂层需低发射率规避红外探测、航天器的部件需要高发射率散热。二、发射率测试仪的工作原理与特点发射率测试仪是专门用于测量物体发射率的仪器，根据《GJB 2502.3-2006 航天器热控涂层试验方法第三部分:发射率（国家军标）》，将发射率测量方法分为半球发射率稳态量热计法、法向发射率、辐射计法及反射法—便携式等。其中应用最为广泛、准确的为半球发射率稳态量热计法。该方法半球发射率测试范围为0.03～0.98，测试精度为0.01。这类测试原理的仪器具有测量精度高、响应速度快、操作简便等特点。比如，RLK650 pro便携式红外发射率测量仪（国产）、AE1/RD1半球发射率测量仪（美国），两者都能在短时间内给出精准的发射率数据，并且操作简单，设计轻巧便携，大大提高了测量效率。三、黑体校准源黑体校准源在红外测试中起着不可或缺的作用。黑体是一种理想化的物体，在任何温度下都能全部吸收外来的电磁辐射，并且向外辐射的能量只与温度有关。黑体校准源正是模拟了黑体的这种特性，提供了一个稳定、准确的参考辐射源，帮助评估材料的耐热性和热稳定性。比如航天器在进入大气层时会经历极高的温度，在太空中则会遭遇极端低温，因此需要对材料进行严格的测试。在高温测量中，H-3000黑体作为国产首款3000℃黑体炉，凭借其快速加热、高精度和移动式设计等显著优势，已成为高温黑体市场的备受欢迎的产品。低温测试中，ML系列超低温面源黑体温度区间较宽(150K~450K，低温可扩展至40K)、温度均匀性好、发射率高，可应用于实验室及真空低温环境下红外成像器的辐射定标和非均匀性校正工作。四、总结在航天领域中，发射率测量仪为航天器热控设计等提供准确的辐射特性参数，黑体校准源则作为温度测试的基准保障，共同助力航空航天新型材料的研发和应用。如果您在相关领域有发射率测试和红外校准需求，欢迎来电咨询。

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